ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
МИСиС (28.00.00 Нанотехнологии и наноматериалы )
Все издания
Показано 1..16 из 46

МИСиС (28.00.00 Нанотехнологии и наноматериалы )

Фазовые превращения и структурообразование

АвторыСтоляров В.Л., Малютина Е.С., Введенский В.Ю.
ИздательствоМИСиС
Год издания2018
Изложены основы материаловедения, позволяющие проследить взаимосвязь химического состава, структуры и свойств материалов. Описаны процессы формирования атомной структуры, нано-, микро- и макроструктуры при протекании кристаллизации и различных фазовых превращений в твердом состоянии в одно-, двух- и трехкомпонентных материалах. Разобраны приемы работы с диаграммами фазового равновесия двойных и тройных систем. Приведены примеры методов управления структурой, используемые в различных технологиях производства и обработки материалов. <br>Для студентов, обучающихся по направлениям бакалавриата 22.03.01 "Материаловедение и технология материалов", 03.03.02 "Физика", 28.03.03 "Наноматериалы"; может быть использован аспирантами и инженерно-техническими работниками, занимающимися металлофизикой и материаловедением.
Загружено 2019-10-08 03:11:29
В сборнике представлены задачи по определению фазовых и структурных превращений в тройных сплавах, построению политермических и изотермических диаграмм, нахождению состава сплава по заданным фазовым или структурным составляющим сплава, а также нахождению точки состава сплава по заданному количеству составляющих. Предложены диаграммы с отсутствием растворимости компонентов в твердом состоянии, а также диаграммы с ограниченной и неограниченной растворимостью. В сборнике приведены примеры решения задач.<br> Предназначен для бакалавров, обучающихся по направлениям 03.03.02 "Физика", 22.03.01 "Материаловедение и технологии материалов", 22.03.02 "Металлургия" и 28.03.03 "Наноматериалы".
Загружено 2019-10-08 03:12:38

Методы контроля и анализа веществ: рентгеновские методы анализа

АвторыСальников В.Д., Филичкина В.А, Муравьева И.В.
ИздательствоМИСиС
Год издания2017
В лабораторном практикуме изложены основные понятия и методики проведения практических работ по рентгеновским методам анализа. Каждой работе предшествует теоретическое введение. Приведены последовательность выполнения работ, перечень контрольных вопросов для закрепления полученных теоретических и практических знаний.<br> Соответствует программе курса "Методы контроля и анализа веществ".<br>Пособие предназначено для студентов бакалавриата, обучающихся по направлениям подготовки 22.03.02 "Металлургия", 03.03.02 "Физика", 28.03.03 "Наноматериалы".
Загружено 2019-10-08 03:10:41

Основы технологии электронной компонентной базы : практикум

АвторыАстахов В.П.
ИздательствоМИСиС
Год издания2016
Содержит описание трех практических занятий, в которых изучаются такие процессы создания приборных структур наноэлектроники, как термическое окисление, диффузия и ионная имплантация. Ставит перед собой задачи объяснить физическую сущность используемых в микро- и наноэлектронике технологических процессов, научить комплексному научному подходу к выбору методов и процессов формирования электронной компонентной базы, а также освоить методики расчета параметров технологических процессов. Результатом обучения должно быть приобретение компетенций по основным базовым процессам технологии для применения их в научных исследованиях, разработке и производстве изделий микро- и наноэлектроники. Практикум является составной частью курса "Основы технологии электронной компонентной базы" для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника".
Рекомендовано редакционно-издательским
советом университета
Загружено 2017-09-22 02:25:54

Методы аттестации наноструктурных поверхностей: методы формирования и исследования функциональных поверхностей

АвторыПетржик М.И., Кирюханцев-Корнеев Ф.В., Воробьева М.В.
ИздательствоМИСиС
Год издания2015
Лабораторный практикум содержит описание семи лабораторных работ, при выполнении которых студенты изучают физические основы формирования функциональных поверхностей, устройство оборудования и методики измерений, получают навыки работы на современных технологических установках осаждения покрытий методами физического и химического осаждения, а также проводят исследования на аналитических средствах измерений, предназначенных для аттестации свойств покрытий. <br>Предназначен для бакалавров и магистрантов, обучающихся по направлениям 02.03.02 и 02.04.02 "Металлургия", осваивающих курсы "Теория и технология покрытий" и "Методы аттестации наноструктурных поверхностей".
Загружено 2019-12-11 03:18:58

Основы технологии электронной компонентной базы

АвторыРабинович О.И., Крутогин Д.Г., Маренкин С.Ф., Подгорная С.В.
ИздательствоМИСиС
Год издания2015
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках курса "Основы технологии электронной компонентной базы".<br> Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.04.04 - "Электроника и наноэлектроника" в качестве бакалавров, магистров и инженеров, и может быть полезно при выполнении лабораторных работ, подготовке магистерских диссертаций и дипломных работ.
Загружено 2019-10-08 03:16:44
В результате анализа условий проявления квантово-размерных эффектов, возникающих в многослойных тонкопленочных структурах, уточнены требования к технологическим процессам формирования наноструктурированных гетерокомпозиций. Анализируются как базовые традиционные методы формирования с применением нанолитографии - молекулярно-лучевая эпитаксия и газофазная эпитаксия из металлоорганических соединений, так и специфические - зондовая нанотехнология и самоорганизация упорядоченных наноструктур на полупроводниковых подложках. В качестве практического применения наноструктурированных гетерокомпозиций рассмотрены конструкция и принцип работы полевого транзистора с высокой подвижностью носителей и одноэлектронный транзистор.<br> Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлениям 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника", 28.04.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника".
Рекомендовано редакционно-издательским советом университета
Загружено 2019-10-08 03:13:19

Функциональные материалы электроники и их технологии

АвторыКрутогин Д.Г.
ИздательствоМИСиС
Год издания2015
Рассмотрены основные физико-химические свойства материалов, используемых в радиоэлектронной аппаратуре. Для основных четырех групп материалов - полупроводников, металлов, диэлектриков и магнетиков приведены свойства, определяющие их функциональность, и рассмотрены базовые технологии получения. <br>Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222 900 "Нанотехнологии и микросистемная техника" или 210 100 "Электроника и наноэлектроника" в рамках соответствующей дисциплины бакалаврского учебного плана.
Рекомендовано редакционно-издательским советом университета
Загружено 2019-10-08 03:09:47

История и методология науки и техники в области электроники и нанотехнологии

АвторыКрутогин Д.Г.
ИздательствоМИСиС
Год издания2015
Рассмотрены исторические аспекты становления и развития электронной промышленности как отрасли, обеспечивающей компонентную базу радиотехники, электроники, вычислительно-информационной техники, т.е. наиболее наукоемких областей техногенной цивилизации. Приоритет отдан истории советской и российской электронной промышленности, развивавшейся в XX веке совершенно особым путем, достигшей значительных, подчас невероятных, успехов и пережившей ряд тяжелых кризисов. Выдающиеся организаторы, глобальные проекты, зависимость от политических решений - все это история советской электронной промышленности и опыт на будущее. <br>Предназначено студентам, обучающимся по направлениям 222 900 "Нанотехнологии и микросистемная техника" и 210 100 "Электроника и наноэлектроника", в рамках соответствующей дисциплины учебного плана магистратуры и как материал для самостоятельной работы.
Рекомендовано редакционно-издательским советом университета
Загружено 2019-10-08 03:08:57

Физико-химические основы процессов микро- и нанотехнологий

АвторыРабинович О.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2015
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках курса "Физико-химические основы процессов микро- и нанотехнологий". Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 28.03.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника" в качестве бакалавров, магистров и инженеров, при выполнении лабораторных работ, подготовке магистерских диссертаций и дипломных работ.
Рекомендовано редакционно-издательским
советом университета
Загружено 2017-10-05 13:13:10

Наноматериалы : Ленгмюровские пленки

АвторыВалянский, С.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2014
Описываются современные технологии получения и методы исследования физических свойств моно- и мультимолекулярных пленок Ленгмюра - Блоджетт. В настоящее время технологии на основе пленок Ленгмюра - Блоджетт активно используются при создании новых наноматериалов и различных приборов и устройств на их основе. Пособие предназначено для самостоятельной работы студентов и аспирантов Института новых материалов и нанотехнологий НИТУ "МИСиС", обучающихся по направлениям: 011200 - физика, 150600 - материаловедение и технология новых материалов, 152100 - наноматериалы, 210100 - электроника и наноэлектроника.
Загружено 2017-08-23 01:59:02

Нанокристаллические материалы из металлоорганики

АвторыЕрмилов А.Г., Лопатин В.Ю.
ИздательствоМИСиС
Год издания2013
Приведен обзор методов получения, консолидации, свойств и областей применения наноматериалов. Показано, что получение наноструктур из ме таллоорганических материалов позволяет устранить основные препятствия для широкого применения наноматериалов в порошковой металлургии: окисление их в процессе подготовительных операций и сложность равномерного распределения по объему формовки. <br>На примере синтеза монокарбида вольфрама показано действие промежуточных метастабильных фаз на механизм карбидизации. Использование таких фаз как активаторов карбидизации позволяет получать монокарбид вольфрама и смесь монокарбида вольфрама с кобальтом с размером областей когерентного рассеяния 15...25 нм. Показана возможность формирования из металлоорганических смесей высокопористых материалов с пористостью 60...80 % из молибдена и диоксида циркония с прочностью 5...20 МПа. Применение металлоорганики в качестве пластификатора позволяет активировать спекание порошковых материалов и повысить прочность прессовок на 5.7 % по сравнению с традиционными пластификаторами.<br>Предназначена для научных сотрудников и аспирантов, работающих в области порошкового материаловедения. Может быть полезна студентам, обучающимся по профилям "Металлургия цветных металлов" и "Функциональные материалы и покрытия".
Загружено 2019-12-11 03:20:14
Учебное пособие посвящено вопросам деградации полупроводниковых приборов и интегральных схем вследствие дефектов, образующихся при воздействии космической радиации. Рассмотрены следующие вопросы: радиационные условия в космосе; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на свойства полупроводников; деградация кремниевых приборов и микросхем вследствие радиационных эффектов при воздействии ионизирующих излучений космического пространства; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на деградацию изделий оптоэлектроники; особенности испытаний изделий электронной техники и радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию ионизирующих излучений космического пространства. <br>Предназначено для бакалавров и магистров, обучающихся по направлению 210100 "Электроника и наноэлектроника", а также студентов, обучающихся по специальности "Микроэлектроника и твердотельная электроника". Будет полезно специалистам, работающим в области конструирования изделий полупроводниковой электроники и технологии их изготовления, а также обеспечения надежности и радиационной стойкости комплектующих элементов и аппаратуры.
Рекомендовано учебно-методическим объединением вузов Российской Федерации по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки 210100 "Электроника и наноэлектроника"
Загружено 2019-10-08 03:15:04

Методы исследования характеристик и свойств металлов

АвторыДзидзигури Э.Л.
ИздательствоМИСиС
Год издания2013
В лабораторном практикуме изложено описание устройства дифрактометра "Дифрей" и его программного обеспечения. В отдельной главе приведены лабораторные работы по исследованию материалов методами рентгеновской дифрактометрии. Представленный материал является руководством к практической работе по съёмке дифрактограмм на дифрактометре "Дифрей" и определению фазового состава, параметров кристаллической структуры, размеров областей когерентного рассеяния (ОКР) у порошковых материалов, а также решению разнообразных задач материаловедения.<br> Лабораторный практикум предназначен для бакалавров и магистров, обучающихся по направлениям 150100 "Материаловедение и технологии материалов", 150400 "Металлургия", 152100 "Наноматериалы", а также для студентов, магистрантов и аспирантов других направлений и слушателей курсов повышения квалификации. Может быть полезен преподавателям, инженерам и научным работникам, не имеющим специальной подготовки для работы на рентгеновском дифрактометре с позиционно-чувствительным детектором.

Рекомендовано редакционно - издательским советом университета

Загружено 2019-09-17 03:31:10

Наноэлектроника: курс лекций

АвторыМ.Н. Орлова, И.В. Борзых
ИздательствоМИСиС
Год издания2013
Рассмотрены физические и технологические основы наноэлектроники. Описаны подходы, позволяющие формировать элементы электронной техники в приборах и устройствах наноэлектроники. Проанализированы тенденции развития наноэлектроники с технологическими нормами менее 100 нм. Курс лекций представляет собой практическое руководство для студентов и аспирантов технических вузов, обучающихся по направлению 210100 "Электроника и наноэлектроника".
Загружено 2017-08-25 01:58:57

Компьютерное моделирование нанотехнологий, наноматериалов и наноструктур

АвторыС.Ю. Юрчук
ИздательствоМИСиС
Год издания2013
Курс лекций описывает основные математические модели фотолитографии и электронной литографии, используемых при создании субмикронных структур. Приведены модели отдельных процессов фотолитографии: формирование изображения в фоторезисте, экспонирование, травление фоторезиста. Показаны ограничения, которые накладываются на процесс фотолитографии. Приведена теория электронной эмиссии, используемая для моделирования формирования электронного пучка. Описан эффект близости, который вносит ограничения в точность формирования изображения при электронной литографии. Показаны способы коррекции эффекта близости. Предназначен для студентов, обучающихся в магистратуре по направлению 210100 "Электроника и наноэлектроника".
Загружено 2017-08-23 01:59:20