Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике
9. Исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие
Благодарности и адреса для переписки
1. Средства и объекты нанотехнологий
+
2. Измерения на постоянном токе
+
3. Измерения на переменном токе
+
4. Измерительные генераторы сигналов
+
5. Современные электронные осциллографы
+
6. Искусство осциллографии
+
7. Анализаторы сигналов, спектра и цепей
+
8. Последовательные и логические анализаторы, осциллографы смешанных сигналов
+
9. Исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
-
9.1. Основы измерения статических параметров полупроводниковых приборов
9.2. Источники/измерители фирмы Keithley для тестирования полупроводниковых приборов и микросхем
9.3. Снятие характеристик полевых транзисторов
9.4. Анализатор/характериограф силовых полупроводниковых приборов Agilent B1501A
9.5. Измерение радиочастотных параметров полупроводниковых приборов и микросхем
9.6. Измерение дифференциальных параметров
9.7. Измерения временных параметров полупроводниковых приборов
9.8. Тестирование интегральных микросхем
10. Измерение параметров оптико-электронных приборов
+
ЛИТЕРАТУРА
Данный блок поддерживает скрол*