Справка
STUDENT'S CONSULTANT
Электронная библиотека технического вуза
28.00.00
Нанотехнологии и наноматериалы (Логос)
Enter/Registration
font
ru
Accessibility
General Catalogue
28.00.00
Нанотехнологии и наноматериалы (Логос)
Menu
Everywhere
By name
By authors
К результату поиска
Advanced search
Bookmarks
Homepage
Enter/Registration
font
ru
Управление
Мои отчеты
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Download app
Table of contents
Close Menu
General Catalogue
Издательства
УГС
Мои списки
Все издания
Показано
1..2
из
2
28.00.00
Нанотехнологии и наноматериалы (Логос)
1
Алфавит
Новинки/дата
Год издания
16
50
100
Все
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции нано-индустрии
Авторы
под ред. В.Н. Крутикова
Издательство
Логос
Год издания
2017
Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нано-технологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства
измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологии и продукции нано-индустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции нано-индустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы". Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологии и нано-метрологии.
...
Downloaded
2016-10-04 02:14:09
add to basket
Нанометрология
Авторы
А.Г. Сергеев
Издательство
Логос
Год издания
2017
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX- XXI вв. и концепции ее развития.
Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
...
Downloaded
2014-07-08 12:00:00
add to basket
1