**Данные блоки поддерживают скрол
**Данные блоки поддерживают скрол вверх/вниз
МИСиС (11.00.00 Электроника, радиотехника и системы связи)
Элионная технология в микро- и наноиндустрии
АвторыКузнецов Г.Д., Кушхов А.Р., Билалов Б.А.
ИздательствоМИСиС
Год издания2008
В учебном пособии рассматриваются закономерности изменения параметров тонкопленочных гетерокомпозиций материалов электронной техники при воздействии электронных, ионных потоков и низкотемпературной плазмы для микро- и наноразмерных устройств с улучшенными характеристиками. Цель данного пособия - формирование современных представлений и достижений в области микро- и наноиндустрии. <br>Учитывая, что в рассматриваемых процессах основную роль играют электроны и ионы, принято для краткости называть технологию элионной. <br>Соответствует программе курса "Элионная технология в микро- и наноиндустрии".<br> Предназначено для подготовки специалистов по направлению 210100 "Электроника и микроэлектроника" и может быть полезно для обучающихся по направлению 210600 "Нанотехнология", 210601 "Нанотехно-логия в электронике" и по специальности 210602 "Наноматериалы". ...
Загружено
2020-01-03
Элементы и устройства магнитоэлектроники
АвторыКрутогин Д.Г.
ИздательствоМИСиС
Год издания2008
Лабораторный практикум по курсу "Элементы и устройства магнитоэлектроники" имеет целью обеспечить формирование у студентов навыков радиофизических методов определения магнитных параметров ферритовых материалов, обработки экспериментальных результатов с использованием компьютера, численного моделирования зависимости динамических параметров ферритов от напряженности и частоты магнитного поля.<br> По сравнению с предыдущим практикумом предусмотрены возможности индивидуализации и усложнения задач лабораторных работ, использования более современных измерительных приборов, дополнительные задания метрологического характера по оценке точности и анализу источников погрешностей измерений. <br>Предназначен для студентов, обучающихся по специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника". ...
Загружено
2019-10-27
Ионно-плазменная обработка материалов
АвторыКузнецов Г.Д., Кушхов А.Р.
ИздательствоМИСиС
Год издания2008
В курсе лекций рассматриваются основные ионно-плазменные процессы в технологии микро- и наноэлектроники. Приводится классификация процессов травления и осаждения тонких пленок материалов электронной техники и гетероструктур на их основе. Рассматриваются особенности селективного и анизотропного травления наноразмерных слоистых материалов при различных способах вакуум-плазменных процессов. Обсуждаются проблемы получения химически чистой поверхности подложек, а также возможные случаи повреждения и изменения шероховатости приповерхностного слоя. Анализируются возможности ионного синтеза и кристаллизации пленок при различных условиях ионного воздействия на поверхность обрабатываемого материала. Приводятся примеры использования ионно-плазменных процессов для создания элементов микро- и наноэлектроники. <br>Курс лекций подготовлен по рекомендации горно-металлургической секции РАЕН. <br>Содержание соответствует государственному образовательному стандарту по направлению "Электроника и микроэлектроника".<br> Предназначено для студентов (бакалавров и магистров), обучающихся по направлениям 210100 "Электроника и микроэлектроника", 210600 "Нанотехнология". ...
Загружено
2019-10-27
Микро- и нанотехнологии пленочных гетерокомпозиций
АвторыКузнецов Г.Д., Симакин С.Б., Демченкова Д.Н.
ИздательствоМИСиС
Год издания2008
В курсе лекций рассматриваются принципы построения, организации и функционирования наноразмерных гетерокомпозиций, физико-химические основы метода Ленгмюра - Блоджетт, ионно-плазменного получения пленок аморфного гидрогенизированного кремния, проблемы деградации параметров пленочных структур. Анализируются эффекты размерного квантования в полупроводниковых наноструктурах, закономерности ионно-плазменного получения пленок нитридов металлов и карбида кремния, а также формирования топологии микросхем с применением неразрушающих методов контроля. Обсуждаются и анализируются особенности технологии молекулярно-пучковой и МОС-гидридной эпитаксии полупроводниковых соединений. Излагаются основы синтеза сверхрешеток алмазоподобных широкозонных материалов и структурно-ориентационного изоморфизма. <br>Приводятся примеры создания микро- и наноразмерных приборов микросистемной техники с использованием ионных процессов. <br>Содержание курса лекций соответствует программе.<br> Предназначен для студентов (бакалавров и магистров), обучающихся по направлениям 210100 "Электроника и микроэлектроника", 210600 "Нанотехнология", 210601 "Нанотехнология в электронике" и по специальности 210602 "Наноматериалы". ...
Загружено
2019-10-27
Процессы микро- и нанотехнологии. Ионно-плазменные процессы
АвторыКузнецов Г.Д., Курочка С.П., Кушхов А.Р., Демченкова Д.Н., Курочка А.С.
ИздательствоМИСиС
Год издания2007
Лабораторный практикум выполняется по курсам "Основы высоких технологий", "Процессы микро- и нанотехнологии" и "Микротехнология слоистых материалов и покрытий". <br>В нем рассматриваются основы физики взаимодействия ускоренных низкоэнергетических ионов с твердым телом, практические возможности использования эффектов ионного воздействия для получения и травления микро- и наноразмерных пленочных гетерокомпозиций. Приводится методика расчета параметров различных технологических ионно-плазменных процессов обработки тонких пленок и покрытий. Дается методика определения экспериментальных параметров процессов осаждения и травления на реальных промышленных установках.<br> Практикум предназначен для студентов и магистров, обучающихся по направлению "Электроника и наноэлектроника", специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника". ...
Загружено
2020-01-03
Материалы и элементы электронной техники: Расчет режимов термического окисления и диффузии при формировании легированных слоев
АвторыПолисан А.А., Астахов В.П.
ИздательствоМИСиС
Год издания2007
В практикуме рассматриваются принципы расчета режимов термического окисления, обеспечивающего заданную толщину маскирующей оксидной пленки, и режимов диффузии при формировании легированных слоев с заданными параметрами для кремниевых приборных структур. Излагается методика расчетов в программе Math Cad 2001. <br>Соответствует программе курса "Материалы и элементы электронной техники". <br>Предназначен для студентов, обучающихся по специальностям 150601 "Материаловедение и технология новых материалов" и 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника". ...
Загружено
2019-10-29
Расчет частоты и вероятности возникновения одиночных сбоев в БИС
АвторыТаперо К.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2006
Излагаются вопросы, связанные с решением задач, необходимых для выполнения курсовой работы "Расчет частоты и вероятности возникновения одиночных сбоев в БИС" по дисциплине "Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения". <br>Методические указания содержат теоретические сведения, постановку задачи и исходные данные для курсовой работы, способы решения поставленных задач. Кроме того, приведен пример выполнения всех необходимых расчетов. <br>Предполагается, что выполнение курсовой работы будет проводиться студентами с использованием ЭВМ. При этом возможно использование любых программных средств. Одним из наиболее оптимальных вариантов представляется использование для решения поставленных задач среды Mathcad. <br>Предназначены для студентов, обучающихся по специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника". ...
Загружено
2019-11-01
Полупроводниковые оптоэлектронные приборы
АвторыЮрчук С.Ю., Диденко С.И., Кольцов Г.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2006
Лабораторный практикум включает описание принципов работы основных оптоэлектронных полупроводниковых приборов: фоторезисторов, фотодиодов, фототранзисторов, оптронов и др. Представлены схемы измерения и методики расчета основных параметров и характеристик оптоэлектронных приборов. Для усвоения предлагаемого материала необходимо иметь базовые знания по курсам "Физика твердого тела", "Физика полупроводниковых приборов", "Квантовая и оптическая электроника". Предназначен для студентов специальности 210104 (2001) "Микроэлектроника и твердотельная электроника" (специализация "Физика и технология интегральных микросхем и полупроводниковых приборов"). ...
Загружено
2017-08-29
Технология материалов электронной техники. Атомно- молекулярные процессы кристаллизации
АвторыКузнецов Г.Д.
ИздательствоМИСиС
Год издания2006
Рассматриваются теоретические вопросы процессов роста объемных монокристаллов и пленок на атомно-молекулярном уровне. Анализируются существующие представления о механизме формирования кристалла с учетом начальных стадий его зарождения. Обсуждаются и анализируются особенности кристаллизации при различной движущей силе процесса. Описаны особенности молекулярно-лучевой эпитаксии. По большинству рассматриваемых разделов приводятся примеры расчетов параметров процесса кристаллизации. Для студентов обучающихся по направлениям 210100 "Электроника и микроэлектроника", 658300 "Нанотехнология", 150702 "Физика металлов" и специальностям 210104 "Микроэлектроника и твердотельная микроэлектроника" и 202100 "Нанотехнология в электронике". ...
Загружено
2017-08-25
Расчеты параметров взаимодействия ускоренных ионов с твердым телом
АвторыКузнецов Г.Д.
ИздательствоМИСиС
Год издания2005
В данном пособии приводятся расчеты взаимодействия ускоренных ионов с твердым телом. Обсуждаются закономерности упругих и неупругих потерь энергии ионом при взаимодействии с атомами и электронами твердого тела материалов электронной техники. Рассматриваются типовые источники ионов, применяемые в технологии электронной техники. Анализируются области проявления таких эффектов взаимодействия, как распыление, дефектообразование и внедрение ионов. <br>По всем рассматриваемым темам приводятся примеры практических расчетов и графические зависимости параметров взаимодействия ионов с полупроводниковыми и металлическими материалами.<br> Пособие соответствует программе курса "Основы высоких технологий".<br> Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 654100 (550700) и специальности 210104 (200100), при выполнении домашних заданий и решении задач на практических занятиях. ...
Загружено
2019-10-27
Полупроводниковые оптоэлектронные приборы
АвторыЮрчук С.Ю., Диденко С.И., Кольцов Г.И., Мартынов В.Н.
ИздательствоМИСиС
Год издания2004
Приведено описание принципов работы основных оптоэлектронных полупроводниковых приборов: фоторезисторов, фотодиодов, фототранзисторов, оптронов и др. Рассмотрены параметры и характеристики оптоэлектронных приборов. Дана классификация как самих приборов, так и их параметров.<br> Курс лекций "Полупроводниковые оптоэлектронные приборы" предназначен для студентов специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника" (специализация "Физика и технология интегральных микросхем и полупроводниковых приборов") направлений 550700, 654100 "Электроника и микроэлектроника". ...
Загружено
2019-11-01
Экология производства материалов и компонентов электронной техники
АвторыКрапухин В.В., Тимошина Г.Г.
ИздательствоМИСиС
Год издания2004
Настоящий курс рассматривает технику защиты окружающей среды от антропологического воздействия на нее на примере производства материалов и компонентов электронной техники. Курс рассчитан на 34 лекционных часа и включает в себя общую экологическую характеристику производства материалов и компонентов электроники, технику защиты окружающей среды, физико-химические методы очистки сточных вод, улавливание и переработку отходов предприятий электронной промышленности; в приложении приведены различные фильтры, выпускаемые НПП "Фолтер". <br>Курс рассчитан на студентов факультета ПМП, направление "Электроника и микроэлектроника" (654600), специальность "Микроэлектроника и твердотельная электроника" (200100). ...
Загружено
2019-10-27
Технология материалов электронной техники
АвторыКожитов Л.В., Крапухин В.В., Маренкин С.Ф., Тимошина Г.Г.
ИздательствоМИСиС
Год издания2004
Данный лабораторный практикум содержит описание семи лабораторных работ по курсу "Технология материалов электронной техники". Лабораторные работы посвящены исследованию физико-химических свойств материалов, кинетических характеристик процессов водородного восстановления, ионного обмена, очистки, ректификации и зонной перекристаллизации. <br>По ряду процессов составляются математические модели, которые идентифицируются по экспериментальным данным.<br>Соответствует государственному образовательному стандарту дисциплины "Технология материалов электронной техники". <br>Предназначен для студентов третьего и четвертого курсов факультета ПМП, обучающихся по специальностям 200100, 07100, 550700. ...
Загружено
2019-09-23
Метрология, стандартизация и сертификация. Основы метрологии в электронике
АвторыБатавин В.В., Крутогин Д.Г., Курочка С П., Подгорная С.В.
ИздательствоМИСиС
Год издания2004
Курс лекций содержит необходимый для изучения раздела "Основы метрологии в электронике" материал, а также примеры решения задач метрологии и справочные данные.<br> Предназначен для студентов специальностей 200100, 200200, 071000 и направления 550700. ...
Загружено
2019-09-04
Панель управления
Читайте книги в приложении Консутльтант Студента на iOS, Android или Windows