ЭБС "КОНСУЛЬТАНТ СТУДЕНТА"
12.00.00 Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии
Все издания
Показано 1..16 из 181

12.00.00 Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии

Дуговой атомно-эмиссионный анализ редкоземельных металлов и их оксидов

АвторыБарановская В.Б., Кошель Е.С.
ИздательствоТехносфера
Год издания2020
Редкоземельные металлы имеют стратегическое значение для всех развитых стран мирового сообщества. Без них не обходится современная опто- и радиоэлектроника, приборо- и автомобилестроение, химическая промышленность, металлургия, атомная и альтернативная энергетика. Области применения и цена на редкоземельные материалы напрямую зависят от их чистоты. В связи с этим контроль химического состава -неотъемлемая часть их производства и потребления. В настоящее время актуальным в аналитическом контроле редкоземельных материалов является расширение круга определяемых примесных элементов и увеличение чувствительности анализа.<br> В настоящей монографии описан методический подход к разработке усовершенствованных методик дугового атомно-эмиссионного анализа редкоземельных металлов и их оксидов, включающих как прямое определение примесных элементов, так и комбинирование инструментального подхода к анализу с предварительным отделением мешающих элементов, их гармонизация с возможностями современной аппаратуры, метрологическим и информационным обеспечением. Эта информация представляет интерес для работников аналитических лабораторий, научно-исследовательских организаций, высших учебных заведений и потребителей редкоземельных металлов и материалов на их основе. ...
Загружено 2020-07-16 03:18:28

Оптические свойства тонких диэлектрических пленок

АвторыТвердохлеб П.Е., Пономарева М.А.
ИздательствоНГТУ
Год издания2019
Пособие посвящено изучению отражающих и пропускающих свойств тонких диэлектрических пленок с единых позиций волновой теории электромагнитного поля. Моделью пленки является трехслойная диэлектрическая структура: "подложка-пленка-защитный слой". Изложены физические основы работы такой структуры в режимах прохождения ТЕ- и ТМ-поляризованных световых волн, в том числе и с полным внутренним отражением на нижней границе раздела диэлектрических сред. Получены формулы для нахождения амплитудных и энергетических коэффициентов отражения и пропускания диэлектрических пленок. Исследованы зависимости таких коэффициентов от длины волны, углов наклона и состояния поляризации световых волн, а также от оптической толщины пленок. Включены вопросы, задачи и расчетно-графические задания, способствующие более глубокому пониманию физических процессов распространения и преобразования световых волн в тонких диэлектрических пленках и методов их компьютерного моделирования. <br>Предназначено для магистров и бакалавров по направлениям 12.03.02 - Оптотехника, 12.03.03 - Фотоника и оптоинформатика, 12.04.02 - Оптотехника, а также для аспирантов по специальности 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы. ...
Загружено 2020-10-08 08:37:12

Когерентная оптика. Интерференция, дифракция, поляризация

АвторыЗаикин А.Д., Суханов И.И., Янавичус О.Б.
ИздательствоНГТУ
Год издания2019
Учебное пособие по курсу общей физики предназначено для студентов I и II курсов РЭФ, ФТФ, ФЭН всех специальностей и всех форм обучения. Теоретический анализ оптических явлений, таких как интерференция, дифракция и поляризация, предваряет их экспериментальные исследования. Использование в экспериментах когерентного лазерного излучения дает возможность получить оптические явления в явной и наглядной форме. ...
Загружено 2020-10-08 08:36:21

Волновая и квантовая оптика

АвторыСарина М.П., Холявко В.Н.
ИздательствоНГТУ
Год издания2019
В пособии содержится набор тестовых заданий по разделам волновой и квантовой оптики. Кроме того, в нем изложен краткий теоретический материал по указанным разделам, приведены примеры решения тестовых заданий, а также варианты тестов с ответами. Пособие может быть использовано студентами и преподавателями при изучении раздела "Волновая и квантовая оптика" в курсе общей физики и для контроля знаний студентов при промежуточной или итоговой аттестации. ...
Загружено 2020-10-08 08:34:42

Алгоритмы обнаружения источников оптического излучения

АвторыРумянцев К.Е.
ИздательствоЮФУ
Год издания2019
На основе обобщённого подхода к определению временных соотношений при поиске протяжённых проекций мобильных источников лазерного излучения решается задача минимизации энергетических затрат при реализации аппаратуры поиска источника непрерывного и импульсного оптического излучения в аналоговом или цифровом виде. Обосновывается структура оптимальных обнаружителей при медленных и быстрых изменениях фоновой обстановки при использовании в качестве сканирующих фотоприёмников диссекторов. <br>Дана методика проектирования диссекторной аппаратуры поиска и обнаружения оптического излучения. Задание предусматривает выбор и описание лазерной системы связи с аппаратурой пространственного поиска источника оптического излучения, обоснование стратегии взаимного поиска корреспондентов в режиме вхождения в связь, синтез алгоритма обнаружения сигнала, расчёт параметров аппаратуры поиска, формирование требований к узлам диссекторной аппаратуры. Приведён пример проектирования аппаратуры поиска оптического излучения с модуляцией мощности колебанием поднесущей частоты.<br> Синтезированы устойчивые алгоритмы обнаружения лазерного излучения в условиях изменений фоновой обстановки в месте приёма. Обоснованы структуры адаптивных и робастных обнаружителей. <br>Учебник предназначается для студентов, обучающихся по специальности 10.05.02 Информационная безопасность телекоммуникационных систем. ...
Загружено 2020-09-28 15:13:20

Проектирование защищенных оптических телекоммуникационных систем

АвторыГорбунов А.В., Зачиняев Ю.В., Плёнкин А.П.
ИздательствоЮФУ
Год издания2019
Пособие содержит теоретические сведения о проектировании оптических телекоммуникационных систем с учётом требований по обеспечению защиты информации, а также задание и руководство к выполнению индивидуального задания по проектированию защищённых волоконно-оптических систем передачи. <br>Предназначено для обучающихся по специальности 10.05.02 Информационная безопасность телекоммуникационных систем. ...
Загружено 2020-09-08 04:05:37

Динамические термографические методы неразрушающего экспресс-контроля

АвторыГоловин Д.Ю., Тюрин А.И., Самодуров А.А., Дивин А.Г., Головин Ю.И.
ИздательствоТехносфера
Год издания2019
В книге кратко описано современное состояние тепловой технической диагностики и неразрушающего контроля материалов и крупногабаритных изделий по данным как отечественных, так и зарубежных (преимущественно) публикаций. Более подробно рассмотрен ряд новых инфракрасных бесконтактных методов экспресс-контроля качества материалов и изделий, не требующих вырезки и специальной подготовки образцов из материала или изделия.<br> Описаны наиболее развитые методы динамического лазерного нагрева и инфракрасной термографии (как хорошо известные и внесенные в стандарты РФ и зарубежных стран, так и новейшие, реализуемые с помощью высокоразрешающих тепловизоров и оригинального программного обеспечения). <br>Особое внимание уделено неразрушающим экспресс-методам определения теплофизических характеристик и диагностики состояния крупногабаритных объектов, позволяющим использовать их в производственных и полевых условиях.<br> Приведен ряд оригинальных результатов измерения температуропроводности широкого спектра материалов (пластиков, композитов, керамик, монокристаллов, прозрачных элементов силовой оптики, металлов и сплавов), а также теплового неразрушающего контроля объектов с модельными трещинами, расслоениями, дефектами покрытий в условиях одностороннего доступа к объекту контроля.<br> Книга написана коллективом авторов, представляющих три организации - Московский государственный университет им. Ломоносова, Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина и Тамбовский государственный технический университет, имеющие опыт и компетенции в физике твердого тела, материаловедении и приборостроении. <br>Книга будет интересна инженерам-разработчикам, производственникам, студентам, обучающимся по специальностям: 03.04.01. Прикладные математика и физика; 04.04.02. Химия, физика и механика материалов; 12.04.03. Фотоника и оптоинформатика; 13.04.01. Теплоэнергетика и теплотехника; 14.04.01. Ядерная энергетика и теплофизика; 16.04.01. Техническая физика; 22.04.02. Металлургия. ...
Загружено 2020-07-16 03:18:14

Основы проектирования и испытания оптико-электронных приборов астроориентации и навигации космических аппаратов

АвторыВыборнов А.А.
ИздательствоЮФУ
Год издания2019
В учебном пособии на примере оптико-электронных приборов астроориентации и навигации показаны особенности их проектирования и испытаний. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению "Приборостроение" и имеющих профиль подготовки по космическому приборостроению. <br>Книга может также представлять интерес для специалистов, которые работают в области космического приборостроения, и для широкого круга читателей, интересующихся прикладной космонавтикой. ...
Загружено 2020-04-29 19:02:37

Спинорные методы в теории групп и поляризационной оптике

АвторыВеко О.В.
ИздательствоБелорусская наука
Год издания2019
В монографии развито применение линейной параметризации группы GL(4,C) комплексных преобразований в 4-мерном пространстве. За основу берется возможность любую (4×4)-мерную матрицу раскладывать по 16-мерному базису матриц Дирака, тем самым получая унифицированную параметризацию группы и всех ее подгрупп. Изучен вопрос о линейной параметризации унитарной группы SU(4). Исследовано дираковское представление матриц Гелл-Манна. Формализм применен к развитию математического аппарата поляризационной оптики Стокса-Мюллера и Джонса, при этом демонстрируется единство математических методов описания симметрии в релятивистской физике с методами, которые используются в поляризационной оптике. В частности, рассмотрено применение в поляризационной оптике 2- и 4-мерных спиноров; восстановление 3- и 4-мерных матриц Мюллера по поляризационным измерениям; приведение мюллеровских квадратичных форм к диагональному виду; описание преобразований Мюллера общего типа подмножествами вырожденных матриц со структурой полугрупп; классификация таких вырожденных преобразований и др.<br>Адресуется научным работникам, преподавателям высших учебных заведений, а также аспирантам и студентам, специализирующимся в области теоретической физики. ...
Загружено 2020-04-11 03:52:53

Фотоника. Применение фотонов в современных технологиях

АвторыСуптитц В.
ИздательствоТехносфера
Год издания2019
Эта книга не учебник, не монография и даже не научно-популярное издание, а краткая экскурсия в мир фотоники, которая должна дать людям, далеким от этой отрасли, общее представление о том, что такое современная фотоника и для чего она нужна. В тексте нет формул, упоминаются далеко не все современные лазерные, оптические и оптоэлектронные технологии, изложение является не строгим, а иллюстрированным, основанным на "примерах из жизни".<br> Книга предназначена для широкого круга читателей любого возраста, желающих понять техническую инфраструктуру современного общества. Для этого не требуется специальное образование, нужна лишь любознательность. ...
Загружено 2019-10-22 02:52:54

МОС-гидридная эпитаксия в технологии материалов фотоники и электроники

АвторыАкчурин Р.Х., Мармалюк А.А.
ИздательствоТехносфера
Год издания2018
В книге рассмотрены теоретические и практические аспекты МОС-гидридной эпитаксии (МОСГЭ) - одного из наиболее гибких и производительных современных методов получения полупроводниковых структур. Кратко изложены физико-химические основы метода, приведено описание высокопроизводительного технологического оборудования для реализации МОСГЭ и методов контроля роста эпитаксиальных слоев in situ, затронуты вопросы моделирования процессов.<br> Практические аспекты реализации метода подробно рассмотрены на примере формирования эпитаксиальных структур полупроводников AIIIBV, AIIBVI и твердых растворов на их основе - основных материалов современной оптоэлектроники и ИК-техники. Значительное внимание уделено формированию наноразмерных эпитаксиальных структур и гетероструктур на основе нитридов элементов III группы, технология которых получила стремительное развитие в последние годы. Рассмотрены вопросы адаптации метода МОСГЭ к получению ряда новых материалов электронной техники. <br>Книга предназначена специалистам в области технологии полупроводниковых материалов, может быть полезна аспирантам и студентам соответствующих специальностей. ...
Загружено 2019-10-22 02:51:33

Способы расчета точностных характеристик деталей и узлов приборов

АвторыКокорев Ю.А., Звягин Ф.В.
ИздательствоМГТУ им. Н.Э. Баумана
Год издания2018
Представлены основные сведения о способах точностного расчета приборных устройств. Подробно изложены вопросы обоснования выбора точностных параметров, рассмотрены возможные методы расчета на точность сложных и взаимосвязанных деталей и узлов. Учебное пособие содержит справочные материалы, необходимые для расчета на точность деталей и узлов приборных устройств с учетом их назначения, условий эксплуатации, требований к разработке. <br>Приведены примеры расчетов приборных устройств различного назначения и рационального оформления конструкторской документации. <br>Материалы пособия подготовлены с учетом новых ГОСТов. <br>Для студентов технических вузов, изучающих вопросы конструирования приборных устройств различного назначения. ...
Загружено 2019-09-17 03:47:19

Методы и средства акустооптических измерений

АвторыШибаев С. С.
ИздательствоЮФУ
Год издания2018
Описаны структуры акустооптических измерительных процессоров. Приведен перечень основных параметров, характеризующий особенности работы, указаны способы оптимизации их технических характеристик. Проанализирована совокупность факторов, влияющая на точностные характеристики акустооптических измерений. Приведено описание автоматизированного стенда, позволяющего измерить параметры оптических элементов процессора и временную стабильность. ...
Загружено 2019-01-19 02:58:15

Краткий обзор теории полупроводниковых структур

АвторыАвдеев С. П.
ИздательствоЮФУ
Год издания2018
В работе приведены основные теоретические положения в области электрофизического представления полупроводникового материала, рассмотрены явления, протекающие в полупроводниковых структурах, приведены физико-математические соотношения, описывающие работу полупроводниковых приборов. Материал приводится в виде краткого справочного материала для студентов, аспирантов и специалистов, занимающихся проектированием и разработкой технологических процессов полупроводниковых структур. ...
Загружено 2019-01-19 02:49:10

Методы и устройства оптико-голографических систем архивной памяти

АвторыПод ред. С.Б. Одинокова / [Авторы: С.Б. Одиноков, А.Ю. Бетин, В.И. Бобринев, Н.М. Вереникина, С.С. Донченко, Е.Ю. Злоказов, Д.С. Лушников, В.В. Маркин]
ИздательствоТехносфера
Год издания2018
Рассмотрены основные типы систем памяти цифровой информации на оптических дисках и голографических носителях, приведены требования и определены основные характеристики и параметры оптико-голографических систем архивной памяти. Проанализированы методы мультиплексирования микроголограмм Фурье на голографический носитель. Рассмотрены основные оптические схемы регистрации цифровой информации в виде одиночных и наложенных микроголограмм оптико-голографических систем архивной памяти, приведены требования к их узлам и блокам. Приведен метод компьютерного синтеза одномерных и двухмерных микроголограмм Фурье и проанализированы оптические схемы для их считывания и записи на голографический носитель. Книга открывает перспективы для дальнейших исследований, разработок и проектирования конкретных оптико-голографических устройств и систем архивной памяти с записью цифровой или аналоговой информации. Издание будет полезно как для ученых и специалистов, работающих в области голографических технологий, оптико-электронных голографических корреляционных систем распознавания изображений, голографической микроскопии, так и для студентов и молодых специалистов, обучающихся и желающих работать в данной области науки и техники. ...
Загружено 2018-12-30 03:34:52

Оптика миллиметровых волн

АвторыКузнецов С.А.
ИздательствоНГУ
Год издания2018
Учебное пособие знакомит студентов с основными оптическими явлениями в миллиметровом диапазоне длин волн. Содержание пособия и его уровень должны дать студентам базу, достаточную для их будущей научной работы. В пособии кратко изложены теоретические вопросы, необходимые для выполнения лабораторных работ: особенности диапазона миллиметровых и субмиллиметровых волн, явления интерференции и дифракции, принципы работы спектральных приборов и др. В сборнике представлено описание лабораторных работ, составляющих часть лабораторного практикума по физической оптике. В представленном комплексе работ студентам предлагается познакомиться с ММ-излучением на примере классических оптических экспериментов и устройств. Предназначено для студентов второго курса физического факультета, факультета естественных наук и геолого-геофизического факультета НГУ, а также для преподавателей практикума по физической оптике. Рекомендовано к печати кафедрой общей физики ФФ НГУ (протокол № 5 от 15.02.18 г. ...
Загружено 2018-10-18 03:37:50