Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии

Поставить закладку

2.1. Основные тенденции развития нанотехнологий за рубежом С.Н. Мазуренко, В.Н. Крутиков

Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте просмотр в виде pdf. Вам доступно 26 стр. из этой главы.

Для продолжения работы требуется Регистрация

Предыдущая страница

Следующая страница

2.5. О "Концепции обеспечения единства измерений, стандартизации, оценки соответствия и безопасности использования нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии в Российской Федерации до 2015 года" Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, С.А. Кононогов, Ю.М. Золотаревский

2.6. Формирование инфраструктуры Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, В.С. Иванов, В.В. Окрепилов, Ю.М. Золотаревский, Ф.В. Булыгин, В.Л. Лясковский, А.С. Гусев

2.7. Метрологический центр "РОСНАНО" В.С. Иванов

Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии +

Раздел 4. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий и продукции наноиндустрии +

Заключение

Список основных сокращений

Данный блок поддерживает скрол*