Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Введение в фемтонанофотонику: фундаментальные основы и лазерные методы управляемого получения и диагностики наноструктурированных материалов
Часть VI. Метрологическое обеспечение наноизмерений. Базовые принципы
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Предисловие
Часть I. Фундаментальные основы термодинамики и статистической физики наноструктур и методы математического моделирования направленного их конструирования
+
ЧАСТЬ II. Лазерный синтез нанокластерной материи - основные особенности, методы и характеристики
+
Часть III. Микро- и наноструктуры. Гидродинамические неустойчивости, индуцированные лазерным излучением на поверхности твердых тел, и их диагностика методами лазерной и зондовой микроскопии
+
Часть IV. Гибридные лазерные методы получения и осаждения наноструктур композитного состава с управляемой морфологией на поверхности твердых тел; моделирование динамических процессов
+
Часть V. Компьютерное моделирование элементов оптоэлектронных систем и фотоники на микро- и наноуровне
+
Часть VI. Метрологическое обеспечение наноизмерений. Базовые принципы
-
Введение
Глава 19. Концепция развития нанометрологии
Глава 20. Техническое обеспечение нанометрологии
20.1. Оптическая микроскопия
20.2. Электронная микроскопия
20.3. Сканирующая зондовая микроскопия
20.4. Спектроскопия и хроматография в нанометрологии
20.5. Сравнительный анализ технических средств нанометрологии
Глава 21. Поверка и калибровка в сфере нанометрологии
21.1. Общие положения
21.2. Поверка и калибровка рельефной меры
21.3. Поверка и калибровка растровых микроскопов
21.4. Поверка и калибровка атомно-силовых микроскопов
21.5. Организационные основы нанометрологии
Выводы
Тестовые вопросы и задания
Список литературы
Приложение
Заключение
Об авторах
Summary
Данный блок поддерживает скрол*