Поиск

Закладки

Озвучивание недоступно

Озвучить книгу

Изменить режим чтения

Изменить размер шрифта

Оглавление

Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур: ионная имплантация

2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории

Предыдущая страница

Следующая страница

Table of contents

Введение

1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации +

2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории -

2.1. Основные положения динамической теории рассеяния

2.2. Влияние дефектов на дифракцию

2.3. Уравнения Такаги-Топэна

2.4. Расчет кривой дифракционного отражения на основе уравнений Такаги-Топэна

2.5. Полукинематическое приближение

2.6. Метод восстановления профиля деформации

2.7. Генетический алгоритм

3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения +

4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев +

Заключение

Библиографический список

Данный блок поддерживает скрол*