Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
3. Подготовка образцов
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Словарь наиболее часто используемых аббревиатур
Глава 1. Основы растровой электронной микроскопии
1. Введение
+
2. Устройство растровых электронных микроскопов
+
3. Подготовка образцов
-
3.1. Процедуры получения изображений биоорганических образцов в РЭМ высокого разрешения
3.2. Фиксация образцов и методы сушки
3.3. Дегидратация и высушивание на воздухе
3.4. Метод сублимационной криосушки
3.5. Сушка в критической точке
3.6. Нанесение металлических покрытий
3.7. Структурные исследования с помощью ВРРЭМ химически фиксированных массивных биологических тканей, высушенных в критической точке
Заключение
Литература
Глава 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
+
Глава 3. Рентгеновский микроанализ в наноматериалах
+
Глава 4. Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия
+
Глава 5. Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе
+
Глава 6. Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур
+
Глава 7. Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов
+
Глава 8. Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур
+
Глава 9. Нанопроволоки и углеродные нанотрубки
+
Глава 10. Фотонные кристаллы и устройства
+
Глава 11. Наночастицы и коллоидные самосборки
+
Глава 12. Наноблоки, изготовленные посредством темплатов
+
Глава 13. Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита
+
Глава 14. Бионаноматериалы
+
Глава 15. Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях
+
Литература
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*