Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур: ионная имплантация
3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
Поставить закладку
3.1. Двухкристальный рентгеновский дифрактометр (ДРД)
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 4 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации
+
2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории
+
3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
-
3.1. Двухкристальный рентгеновский дифрактометр (ДРД)
3.2. Трехкристальный рентгеновский дифрактометр (ТРД)
3.3. Методики анализа карт обратного пространства
4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев
+
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*