Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Нанометрология
ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. СТАНОВЛЕНИЕ НАНОИНДУСТРИИ И КОНЦЕПЦИЯ РАЗВИТИЯ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ГЛАВА 2. ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
-
2.1. Методы и средства интерференционных измерений
2.2. Использование принципов микроскопии в наноизмерениях
2.2.1. Оптическая микроскопия
2.2.2. Электронная микроскопия
2.3. Сканирующая зондовая микроскопия
2.3.1. Виды сканирующей зондовой микроскопии
2.3.2. Сканирующий туннельный микроскоп
2.3.3. Атомно-силовой микроскоп
2.4. Разновидности ближнепольной микроскопии
2.5. Спектроскопия в нанометрологии
2.5.1. Общие сведения
2.5.2. Атомный спектральный метод
2.5.3. Молекулярные методы спектроскопии
2.5.4. Радиоспектроскопия
2.5.5. Ядерные методы спектроскопии
2.5.6. Электронная спектроскопия
2.5.7. Рентгеноспектроскопия
2.5.8. Лазерная спектроскопия
2.6. Хроматография в наноизмерениях
2.6.1. История и классификация методов хроматографии
2.6.2. Жидкостная хроматография
2.6.3. Газовая хроматография
2.7. Сравнительный анализ технических средств нанометрологии
ГЛАВА 3. НЕСТАБИЛЬНОСТЬ, ТОЧНОСТЬ И НЕОПРЕДЕЛЕННОСТЬ НАНОИЗМЕРЕНИЙ
+
ГЛАВА 4. ПОВЕРКА И КАЛИБРОВКА В СФЕРЕ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ГЛАВА 5. ОРГАНИЗАЦИОННЫЕ ОСНОВЫ НАНОМЕТРОЛОГИИ
+
ПРИЛОЖЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
Данный блок поддерживает скрол*