Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий
2. Методы и средства измерения вольт-амперных характеристик и параметров полупроводниковых приборов
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Автоматизированный лабораторный практикум с удаленным доступом на базе технологий National Instruments
+
2. Методы и средства измерения вольт-амперных характеристик и параметров полупроводниковых приборов
-
2.1. Измерение ВАХ полупроводниковых приборов методом вольтметра-амперметра
2.2. Определение параметров полупроводниковых приборов методом вольтметра-амперметра
2.3. Схемы измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов, основанные на измерении напряжений
2.4. Способы измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов
2.5. Средства, используемые для измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов
2.6. Традиционные средства измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов
2.7. Средства измерения ВАХ и параметров полупроводниковых приборов на базе ПЭВМ
3. Аппаратно-программный комплекс с удаленным доступом "Электроника"
+
4. Исследование полупроводниковых приборов посредством моделирования на ПЭВМ
+
5. Описание лабораторных работ по исследованию полупроводниковых приборов
+
6. Выполнение лабораторных исследований на базе сетевой лаборатории
+
Заключение
Список литературы
Приложение 1. Список используемых сокращений
Приложение 2. Описание моделей радиокомпонентов и их параметров
Приложение 3. Предельные эксплуатационные данные исследуемых полупроводниковых приборов
Приложение 4. Варианты заданий
Данный блок поддерживает скрол*