Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
2. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Кинематическая теория рассеяния
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Основы кристаллографии и кристаллохимии
+
2. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Кинематическая теория рассеяния
-
2.1. Природа рентгеновского излучения. Основной закон ослабления рентгеновских лучей
2.2. Обратная решетка. Кинематическая теория рассеяния рентгеновских лучей кристаллом. Условия Лауэ и уравнение Вульфа - Брэгга
2.3. Рассеяние рентгеновских лучей электроном, атомом, элементарной ячейкой и кристаллом. Структурная амплитуда, законы погасания. Интегральная интенсивность отражений
3. Основные методы рентгеноструктурного анализа и их применение для анализа наночастиц и наноматериалов
+
4. Основы электроно- и нейтронографии
+
5. Просвечивающая электронная микроскопия
+
5.2. Контраст электронно-микроскопического изображения. Исследование гетерогенных сплавов и дефектов решетки
6. Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*