Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур: ионная имплантация
1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации
-
1.1. Примеры изменений структуры решетки, вызванных ионной имплантацией
1.2. Внедрение примеси
1.3. Образование дефектов в имплантированных слоях во время отжига
2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории
+
3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
+
4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев
+
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*