Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур: ионная имплантация
4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев
Поставить закладку
4.1. Исследования кремния, имплантированного бором и прошедшего термообработку
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 20 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Регистрация
Предыдущая страница
Следующая страница
Оглавление
Введение
1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации
+
2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории
+
3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
+
4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев
-
4.1. Исследования кремния, имплантированного бором и прошедшего термообработку
4.2. Примеры использования генетического алгоритма
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*