Поиск
Закладки
Озвучивание недоступно Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Волоконно-оптические подсистемы современных СКС

ГЛАВА 11. ИЗМЕРЕНИЯ В ОПТИЧЕСКОЙ ПОДСИСТЕМЕ СКС

Предыдущая страница

Следующая страница

ГЛАВА 11. ИЗМЕРЕНИЯ В ОПТИЧЕСКОЙ ПОДСИСТЕМЕ СКС
На предыдущую главу Предыдущая глава
оглавление
Следующая глава На следующую главу

Оглавление

ГЛАВА 11. ИЗМЕРЕНИЯ В ОПТИЧЕСКОЙ ПОДСИСТЕМЕ СКС-
11.1. Общие положения
11.1.1. Назначение и виды измерений
11.1.2. Контролируемые параметры
11.1.3. Объекты тестирования
11.1.4. Оптические измерительные приборы и области их применения в СКС
11.1.5. Принципы выполнения измерений затухания оптических линий и компонентов СКС
11.1.6. Документирование результатов измерений
11.2. Определение затухания с помощью измерителей оптических потерь
11.2.1. Общие положения
11.2.2. Принцип вынесенного интерфейса
11.2.3. Метод вносимых потерь и его канонические разновидности
11.2.4. Метод сопряжения волокон
11.2.5. Метод обрыва
11.2.6. Дополнительные требования к измерителю оптических потерь
11.2.7. Принципы подключения измерителя к контролируемому объекту
11.3. Особенности применения метода вносимых потерь при измерениях комплексных объектов СКС и их компонентов
11.3.1. Работа со шнуровыми изделиями
11.3.2. Согласование типов разъемов
11.3.3. Особенности задания опорного значения при работе с двухканальными измерительными приборами
11.3.4. Тестирование объектов с оптическим интерфейсом MT-RJ двухканальными измерительными приборами
11.3.5. Тестирование объектов с оптическим интерфейсом MT-RJ одноканальным измерительным прибором
11.4. Приборы для верификации линий и компонентов оптической подсистемы СКС
11.4.1. Оптические тестеры
11.4.2. Прочие разновидности верифицирующего измерительного оборудования
11.5. Приборы для сертификации линий оптической подсистемы СКС
11.5.1. Автоматические измерители
11.5.2. Приставки к кабельным сканерам
11.6. Рефлектометрические измерения
11.6.1. Метод обратного рассеяния
11.6.2. Оптические рефлектометры
11.6.3. Рефлектограмма и основные принципы ее анализа
11.6.4. Конструкция импульсных рэлеевских рефлектометров и их функциональные возможности
11.6.5. Особенности рефлектометров для применения в области СКС и ЛВС
11.7. Приборы и устройства для визуального контроля
11.7.1. Микроскопы
11.7.2. Контрольные оптические микроскопы
11.7.3. Телевизионные микроскопы
11.7.4. Визуализаторы дефектов
11.7.5. Дополнительные функциональные возможности визуализатора
11.8. Выводы
Данный блок поддерживает скрол*