**Данные блоки поддерживают скрол
**Данные блоки поддерживают скрол вверх/вниз
Доп. литература для выcшего образования по нанотехнологиям
Фрустрированные магнитные наноструктуры
АвторыМорозов А.И., Сигов А.С.
ИздательствоФизматлит
Год издания2017
В предлагаемой читателю книге рассмотрены многослойные магнитные наноструктуры, нашедшие широкое применение в считывающих головках жестких дисков и лежащие в основе перспективной магниторезистивной памяти. Показано, что в многослойной системе ферромагнетикантиферромагнетикп оведение магнитных параметров порядка в слоях нанометровой толщины во многом определяется фрустрациями, возникающими на границах раздела слоев. Предсказаны новые типы доменных стенок, порождаемых фрустрациями обменного взаимодействия. Построены фазовые диаграммы "толщина слоя (слоев)-шероховатость" тонкой пленки ферромагнетика на антиферромагнитной подложке и спин-вентильной системы ферромагнетик-антиферромагнетик-ферромагнетик с учетом энергии одноионной анизотропии. Обнаружено, что благоприятным для появления обменного сдвига в системе ферромагнетик-антиферромагнетик является наличие взаимно-перпендикулярных легких осей, лежащих в плоскости слоев. Кроме этого, либо должно существовать связанное состояние доменной стенки на границе раздела, либо должен иметь место пиннинг доменной стенки дефектами кристаллической решетки в антиферромагнетике вблизи границы с ферромагнетиком. Для научных работников и специалистов в области магнитоэлектроники и магнитных наноструктур. ...
Загружено
2018-05-15
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции нано-индустрии
Авторыпод ред. В.Н. Крутикова
ИздательствоЛогос
Год издания2017
Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нано-технологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологии и продукции нано-индустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции нано-индустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы". Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологии и нано-метрологии. ...
Загружено
2016-10-08
Нанометрология
АвторыА.Г. Сергеев
ИздательствоЛогос
Год издания2017
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX- XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологии, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях. ...
Загружено
2014-07-08
Полупроводниковые наногетероструктуры с промежуточной подзоной
АвторыЧеботарев С.Н., Калинчук В.В., Лунин Л.С.
ИздательствоФизматлит
Год издания2016
Рассмотрены физические свойства и закономерности формирования полупроводниковых наногетероструктур с промежуточной подзоной. Представлены механический и термодинамический подходы к описанию самоорганизованного роста в процессе релаксации механически напряженных гетеросистем с различающимися параметрами кристаллических решеток. Описаны методы получения и аналитические методики исследования свойств полупроводниковых наноструктур. Основное внимание уделено новому перспективному ростовому методу - ионно-лучевой кристаллизации. Проведены исследования массопереноса и закономерностей формирования гетероструктур с квантовыми точками, полученных ионно-лучевой кристаллизацией. Развит математический аппарат функций Грина и получены данные о распределении механических напряжений в нанослоях, содержащих включения кубической, гексагональной и пирамидальной формд ля гетеросистемInAs/GaAs(111), InN/AlN(0001), InAs/GaAs(001). Проведено моделирование, выращены и измерены характеристики прототипов фотоэлектрических преобразователей с промежуточной энергетической подзоной для прямозонных и непрямозонных наногетеросистем. Книга предназначена научными инженерно-техническим работникам, специализирующимся в области физики и технологии полупроводниковой оптоэлектроники. ...
Загружено
2018-05-15
Физические основы электроники : полевые приборы
АвторыДиденко C.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2016
В практикуме приводятся описания лабораторных работ, предназначенных для детального и углубленного изучения физических процессов в приборах и структурах современной полупроводниковой электроники - полевых транзисторах с управляющим p-n переходом и МДП-структурой, а также вольт-фарадных характеристик структур металл-диэлектрик-полупроводник. Предназначен для студентов направления 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника". ...
Загружено
2017-10-05
Схемотехника : курс лекций
АвторыОрлова М.Н.
ИздательствоМИСиС
Год издания2016
Приведен обзор основных электронных схем и устройств схемотехники. Представлено описание функционирования, методов анализа и синтеза наиболее важных устройств (логических и аналоговых интегральных схем, устройств памяти и т.д.). Рассмотрено большое количество примеров конструкций и топологии (КМОП и БиКМОП) элементной базы современных интегральных микросхем. Предназначен для бакалавров, обучающихся по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника". ...
Загружено
2017-10-03
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия
АвторыБублик В.Т.
ИздательствоМИСиС
Год издания2016
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу "Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур", читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 "Материаловедение и технологии материалов" по программе "Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники". Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 "Материаловедение и технологии материалов" по программе "Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники". ...
Загружено
2017-10-03
Основы технологии электронной компонентной базы : практикум
АвторыАстахов В.П.
ИздательствоМИСиС
Год издания2016
Содержит описание трех практических занятий, в которых изучаются такие процессы создания приборных структур наноэлектроники, как термическое окисление, диффузия и ионная имплантация. Ставит перед собой задачи объяснить физическую сущность используемых в микро- и наноэлектронике технологических процессов, научить комплексному научному подходу к выбору методов и процессов формирования электронной компонентной базы, а также освоить методики расчета параметров технологических процессов. Результатом обучения должно быть приобретение компетенций по основным базовым процессам технологии для применения их в научных исследованиях, разработке и производстве изделий микро- и наноэлектроники. Практикум является составной частью курса "Основы технологии электронной компонентной базы" для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника". ...
Загружено
2017-10-03
Приборы квантовой и оптической электроники
АвторыЮрчук С.Ю.
ИздательствоМИСиС
Год издания2016
Лекции включают описание принципов работы основных оптоэлектронных полупроводниковых приборов: фоторезисторов, фотодиодов, фототранзисторов, оптронов и лазеров. Рассмотрены параметры и характеристики оптоэлектронных приборов. Дана классификация как самих приборов, так и их параметров. Для усвоения предлагаемого материала необходимо иметь базовые знания по курсам "Электронные свойства твердого тела" и "Электронные и оптические свойства твердых тел". Предназначен для бакалавров, обучающихся по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника". ...
Загружено
2017-10-03
Военные нанотехнологии. Возможности применения и превентивного контроля вооружений
АвторыАльтман Ю.
ИздательствоТехносфера
Год издания2016
Книга является первым систематическим обзором потенциальных военных приложений нанотехно логий. В ближайшие 10-20 лет могут быть созданы сверхмалые компьютеры, более легкие и прочные материалы, новые типы оружия и даже имплантаты, вводимые в организм военнослужащих. Перспективы военных нанотехнологий рассматриваются прежде всего с точки зрения международной безопасности и предотвращения новой гонки вооружений. Монография полезна для ученых, инженеров и преподавателей высшей школы, студентов и аспирантов, бакалавров и магистров, специализирующихся в области нанотехнологии и наноматериалов, микро- и наносистем-ной техники. ...
Загружено
2016-06-18
Методы аттестации наноструктурных поверхностей : методы формирования и исследования функциональных поверхностей
АвторыПетржик М.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2015
Лабораторный практикум содержит описание семи лабораторных работ, при выполнении которых студенты изучают физические основы формирования функциональных поверхностей, устройство оборудования и методики измерений, получают навыки работы на современных технологических установках осаждения покрытий методами физического и химического осаждения, а также проводят исследования на аналитических средствах измерений, предназначенных для аттестации свойств покрытий. Предназначен для бакалавров и магистрантов, обучающихся по направлениям 02.03.02 и 02.04.02 "Металлургия", осваивающих курсы "Теория и технология покрытий" и "Методы аттестации наноструктурных поверхностей". ...
Загружено
2017-10-05
Физико-химические основы процессов микро- и нанотехнологий
АвторыРабинович О.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2015
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля в рамках курса "Физико-химические основы процессов микро- и нанотехнологий". Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 28.03.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника" в качестве бакалавров, магистров и инженеров, при выполнении лабораторных работ, подготовке магистерских диссертаций и дипломных работ. ...
Загружено
2017-10-05
Металлические наноматериалы для медицины
АвторыРогачев С.О.
ИздательствоМИСиС
Год издания2015
В пособии рассматриваются закономерности формирования ультрамелкозернистой (нано- и субмикрокристаллической) структуры в металлических материалах и практические способы получения таких структур. Показано, что методы интенсивной пластической деформации являются наиболее перспективными для получения массивных нано- и субмикрокристаллических металлов и сплавов. Описываются все современные методы интенсивной пластической деформации, использующиеся в лабораторных условиях и в промышленности (КВД, РКУП-конформ, аккумулируемая прокатка и др.). Показано, что получение нано- и субмикрокристаллического состояния в конструкционных металлических материалах формирует уникальный комплекс механических и функциональных свойств. Подробно рассмотрены три группы металлических материалов, перспективных для применения в медицине (титановые сплавы, циркониевые сплавы и материалы с памятью формы) в штатном состоянии и после обработки методами интенсивной пластической деформации. Для студентов старших курсов, обучающихся по направлению "Материаловедение и технологии материалов" и профилю "Инновационные конструкционные материалы", может быть полезно инженерам, аспирантам и научным сотрудникам, профессиональная деятельность которых связана с созданием объемных наноструктурных материалов. Пособие подготовлено в рамках выполнения работ по Договору №14.А12.31.0001 от 24.06.2013 г. ...
Загружено
2017-10-03
Сверхтвердые материалы : определение свойств сверхтвердых материалов
АвторыПолушин, Н.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2014
В практикуме представлены работы, посвященные определению свойств порошков сверхтвердых материалов (алмаза и кубического нитрида бора). Методически работы базируются на ГОСТ 9206-80 "Порошки алмазные". Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 "Материаловедение и технологии материалов" (квалификация бакалавр) и по специальностям 150701 "Физико-химия процессов и материалов", 210602 "Наноматериалы", а также для студентов других направлений. ...
Загружено
2017-08-25
Наноматериалы : Ленгмюровские пленки
АвторыВалянский, С.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2014
Описываются современные технологии получения и методы исследования физических свойств моно- и мультимолекулярных пленок Ленгмюра - Блоджетт. В настоящее время технологии на основе пленок Ленгмюра - Блоджетт активно используются при создании новых наноматериалов и различных приборов и устройств на их основе. Пособие предназначено для самостоятельной работы студентов и аспирантов Института новых материалов и нанотехнологий НИТУ "МИСиС", обучающихся по направлениям: 011200 - физика, 150600 - материаловедение и технология новых материалов, 152100 - наноматериалы, 210100 - электроника и наноэлектроника. ...
Загружено
2017-08-25
Дифракционная оптика и нанофотоника
АвторыБезус Е.А., Быков Д.А., Досколович Л.Л., Ковалев А.А., Котляр В.В., Налимов А.Г., Порфирьев А.П., Скиданов Р.В., Сойфер В.А., Стафеев С.С., Хонина С.Н.
ИздательствоФизматлит
Год издания2014
Книга посвящена устройствам дифракционной оптики и нанофотоники, разработанным путем компьютерного решения прямых и обратных задач дифракции на основе уравнений Максвелла. Решения задач проводились как известными методами - методом конечных разностей во временной области и методом фурье-мод, так и авторскими методами - методом согласованных синусоидальных мод и методом конечных разностей для тел вращения. Эти методы применяются для моделирования дифракции света на компонентах плазмоники, резонансных дифракционных решетках, фотонно-кристаллических компонентах, элементах микрооптики для острой фокусировки света, элементах для формирования и фокусировки сингулярных световых пучков, а также для оптического манипулирования микрообъектами, в том числе биологическими. Для широкого круга научных работников, инженеров, работающих в области оптики, нано-фотоники, лазерной физики, оптоинформационных технологий, оптического приборостроения. Книга также может быть полезна студентам старших курсов специальностей "Прикладные математика и физика", "Прикладная математика и информатика", "Оптика" и аспирантам, специализирующимся в этих областях. ...
Загружено
2016-09-19
Панель управления
Читайте книги в приложении Консутльтант Студента на iOS, Android или Windows